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ASIC测试和验证

ASIC设计的早期,验证芯片设计功能,支持硬件、软件及整个系统的并行开发,并能检查硬件和软件兼容性,同时还可在目标系统中同时测试系统中运行。

产品详情

 ASIC设计技术从单一的功能仿真发展到功能仿真、逻辑综合、时序分析和自动测试生成等四项关键技术。ASIC设计过程中测试矢量的产生与验证步骤,包括激励编写规则,波形检查,测试矢量的获得以及测试矢量的验证.ASIC设计的早期,验证芯片设计功能,支持硬件、软件及整个系统的并行开发,并能检查硬件和软件兼容性,同时还可在目标系统中同时测试系统中运行。

  ASIC测试与验证问题

1、测量可重复性和可复制性(GR&R)
2、电气测试可信度(ElectricalTestConfidence)
3、电气测试的限值空间(Guardband)
4、电气测试参数CPK
5、电气测试良品率模型(testyield)
6、晶圆测试和老化(WaferlevelTestandburn-in)
7、边界扫描(Boundary-Scan)测试/JTAG标准
8、自我测试电路(Built-inSelfTest)



设备名称

基本性能指标

示波器

Angilent MSO7104A 

●1 GHz带宽

●4个模拟通道和16个数字通道

●4 GSa/s采样率

●标准8 Mpts MegaZoom III深存储器

●256级灰度的12.1英寸XGA显示屏

●每秒100000次波形更新速率

示波器

Angilent DPO4032

●350MHz带宽

●2通道

●在所有通道上提供高达2.5Ga/s的采样速率

●在所有通道上提供10 M样点记录长度

●I2C,SPI,CAN串行总线触发和分析

频谱分析仪

Adwant

AT6030D

●频率范围:9KHz~3GHz

●分辨率:1Hz

●范围(Span)准确度:9KHz~3GMHz

●幅度范围: 20dBm~-105dBm

●频率平坦度:±1.dB

●互调失真:-70dBc(-30dB input)

●相位噪声(OFFSET):-90dBc/Hz(10KHz偏移基准)

逻辑分析仪

Acute TL2236

36通道

4GHz定时分析

200MHz状态分析

72M存储长度

毛刺触发、UART,I2C,I2S,SPI H/W触发、4组状态触发

时间标记、实时频率显示、实时状态显示

FPGA开发板

Xilinx Spartan3A 1800 DSP

180万门

可编程LVDS时钟产生器

板载27 MHz LVTTL 振荡器

●128 MB DDR2 SDRAM

●128 Mb 并行Flash

●10/100/1000 Ethernet PHY

●64 Mb SPI 结构Flash

●JTAG RS232

FPGA开发板

Xilinx XUP-V5-LX110T Board

两个XCF32P 平台的Flash PROMs (每个32 Mbyte)

●Xilinx Virtex-5 XC5VLX110T FPGA

●Xilinx SystemACE CF 控制器

●64-bit 宽度256Mbyte DDR2

板载32-bit ZBT 同步 SRAM

●100/100/1000 Ethernet PHY,支持 MII, GMII, RGMII, SGMII接口

●USB接口

可编程系统时钟产生器 

●AC97 音频输入、输出、耳机、麦克风接口、SPDIF

视频输入和输出(DVI/VGA)接口